MLCC電容器溫度特性測試系統(tǒng)

產(chǎn)品型號：HCCT-40H

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2025-12-17

產(chǎn)品簡介：

MLCC電容器溫度特性測試系統(tǒng)

（電容器溫度特性評估系統(tǒng)）

電化學(xué)遷移評價系統(tǒng)

電化學(xué)遷移評估系統(tǒng)可以輕松有效地評估產(chǎn)品壽命和絕緣電阻，從低壓測試到高壓測試都有許多應(yīng)用。

l 評價目標(biāo)

l 印刷電路板

l 絕緣材料

l 半導(dǎo)體材料

容器泄漏測試系統(tǒng)

電容器泄漏測試系統(tǒng)自動評估高溫和高溫/高濕環(huán)境下電容器的絕緣退化特性。

l 評價目標(biāo)

l 電容器

Platinous J 系列恒溫試驗箱

作為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試驗箱的一條線，Platinous系列除了可靠性、性能、可操作性和安全性外，還追求理想的、生態(tài)友好的環(huán)境試驗箱的新環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)。

型號

范圍 迷你零下Compact 超低溫室

Mini Subzero 支持覆蓋超低溫范圍的較寬溫度范圍（-75℃/－85℃ ) to the high-85℃）至高溫范圍（+ 100℃/+ 180℃）。該滅菌室還提供遠程監(jiān)測和操作。

內(nèi)部容積 (L)

特征

該系統(tǒng)可用于評估特定溫度環(huán)境下電容器和各種材料的靜電容量 (C)、損耗因子 (D) 和阻抗 (Z)。

☆ 最多64個通道的自動測量

該系統(tǒng)可以測量不同溫度環(huán)境下的靜電容量 (C)、損耗因子 (D) 和阻抗 (Z) 的多通道。

您可以選擇8個通道的倍數(shù)，最多64個通道。

☆ 圖形功能允許實時查看測量結(jié)果

收集的數(shù)據(jù)，包括不同溫度、頻率和時間下的電特性值和變化率，可以通過各種圖形函數(shù)進行實時審查。

☆ 可從不同測試模式選擇

溫度特性評價試驗、恒定運行試驗和頻率特性試驗。

<溫度特性評估測試>

在此測試模式下，自動記錄特性數(shù)據(jù)，并與溫度變化同步，最多40步。

<持續(xù)運行測試>

該測試模式測量以下參數(shù)的變化特定中隨時間推移的特征自動記錄數(shù)據(jù)。

<頻率特性評價試驗>

該試驗?zāi)Ｊ皆谔囟囟拳h(huán)境下改變頻率的同時，自動記錄不同頻率下的特性數(shù)據(jù)。測試可與溫度特性評價測試或恒定運行測試相結(jié)合。

☆ 多種可選夾具 適用于不同的試驗樣本（可選）

除了 SMD 組件的專用夾具外，我們還提供了根據(jù)離散設(shè)備形狀定制的夾具。

應(yīng)用程序

l 電容器

l 靜電容量 (C)

l 損失因子 (D)

l 阻抗的溫度特性 (Z)

l 頻率特征

l 電子材料

l 印刷電路板

l 通量

l 絕緣材料（樹脂、薄膜等）

l 介電材料（鈦、陶瓷、鉭、鋁電解材料等）

①系統(tǒng)控制器

用于登記系統(tǒng)管理的計算機和監(jiān)視器測試條件，檢查工作 狀態(tài)，并進行數(shù)據(jù)處理。

②不間斷電源

系統(tǒng)控制器的備用電源。

③ RS-232C

操作員控制并監(jiān)測來自系統(tǒng)控制器的環(huán)境測試系統(tǒng)。

④ 掃描裝置

該裝置測量靜電容量 (C)、損耗因子(D) 和帶有測量電纜前沿的標(biāo)準(zhǔn)8通道的阻抗 (Z)。

您可以將每臺器械的通道數(shù)增加到64個，增量為8個通道。

⑤ 測量電纜

由聚四氟乙烯制成的同軸電纜連接到樣品或試驗系統(tǒng)內(nèi)部夾具。

⑥ 繼電器單元

該裝置將測量電纜連接到樣本上或測試系統(tǒng)內(nèi)部夾具至掃描儀裝置。繼電器單元使連接變得容易。

⑦ 樣品連接夾具（可選）

用于連接 SMD 組件或離散設(shè)備的卡扣式夾具。

⑧ LCR儀表

該儀表測量靜電容量 (C)、損耗因子 (D)、和阻抗(Z)。

⑨ 絕緣電阻測試儀（選配）

該測試人員測量絕緣電阻。您可以將每臺器械的通道數(shù)增加到64個，增量為8個通道。

⑩RS-485（可選）

從環(huán)境測試系統(tǒng)選項菜單，RS-485可將通信選作系統(tǒng)控制器和環(huán)境測試系統(tǒng)的通信協(xié)議。

MLCC電容器溫度特性測試系統(tǒng)