半導體塞貝克系數電阻測試儀

產品型號：HC-RD-1100

廠商性質：生產廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-03-10

產品簡介：

HC-RD-1100半導體塞貝克系數電阻測試儀

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師

HC-RD-1100半導體塞貝克系數電阻測試儀由華測儀器生產，是一款簡單易用的材料表征儀器，可以同時測定樣品在RT至1200℃溫度范圍內的塞貝克系數和電阻率。

產品優勢

1. 靈活兼容性與操作便捷性

支持圓柱形（φ6mm）、棱柱形（2~5mm面寬）及圓盤狀（10~25.4mm）多種樣品尺寸，適配復雜形狀試樣；

可調探頭距離（4/6/8mm）與三明治夾持結構，保障樣品接觸穩定性，減少測量誤差；

電極材料可選鎳（-100～500℃）或鉑（-100～1500℃），靈活應對不同溫區與材料特性。

2. 高穩定性與長周期測試能力

電源輸出 0～1A，具備長期穩定性，支持連續高溫實驗與長時間數據采集；

配備K/S/C型熱電偶，實現準確溫度監控與閉環控制。

產品參數

01.溫度范圍:RT~800/1100/1200℃

02.測量原理：塞貝克系數:靜態直流法;電阻率:四端法

03.氣氛:惰性、氧化、還原、真空

04.可調探頭距離:4、6、8mm

05.塞貝克系數測量范圍:1~ 2500uV/K準確度±7%;重復性±3%

06.電導率測量范圍:0.01~2*10⁵s/cm準確度±5-8%;再現性±3%