電介質特性評估系統

產品型號：HCCT-40H

廠商性質：生產廠家

所在地：北京市

更新日期：2025-09-09

產品簡介：

電介質特性評估系統

電化學遷移評價系統

電化學遷移評估系統可以輕松有效地評估產品壽命和絕緣電阻，從低壓測試到高壓測試都有許多應用。

l 評價目標

l 印刷電路板

l 絕緣材料

l 半導體材料

容器泄漏測試系統

電容器泄漏測試系統自動評估高溫和高溫/高濕環境下電容器的絕緣退化特性。

l 評價目標

l 電容器

Platinous J 系列恒溫試驗箱

作為行業標準試驗箱的一條線，Platinous系列除了可靠性、性能、可操作性和安全性外，還追求理想的、生態友好的環境試驗箱的新環境標準。

型號

范圍 迷你零下Compact 超低溫室

Mini Subzero 支持覆蓋超低溫范圍的較寬溫度范圍（-75℃/－85℃ ) to the high-85℃）至高溫范圍（+ 100℃/+ 180℃）。該滅菌室還提供遠程監測和操作。

內部容積 (L)

特征

該系統可用于評估特定溫度環境下電容器和各種材料的靜電容量 (C)、損耗因子 (D) 和阻抗 (Z)。

☆ 最多64個通道的自動測量

該系統可以測量不同溫度環境下的靜電容量 (C)、損耗因子 (D) 和阻抗 (Z) 的多通道。

您可以選擇8個通道的倍數，最多64個通道。

☆ 圖形功能允許實時查看測量結果

收集的數據，包括不同溫度、頻率和時間下的電特性值和變化率，可以通過各種圖形函數進行實時審查。

☆ 可從不同測試模式選擇

溫度特性評價試驗、恒定運行試驗和頻率特性試驗。

<溫度特性評估測試>

在此測試模式下，自動記錄特性數據，并與溫度變化同步，最多40步。

<持續運行測試>

該測試模式測量以下參數的變化特定中隨時間推移的特征自動記錄數據。

<頻率特性評價試驗>

該試驗模式在特定溫度環境下改變頻率的同時，自動記錄不同頻率下的特性數據。測試可與溫度特性評價測試或恒定運行測試相結合。

☆ 多種可選夾具 適用于不同的試驗樣本（可選）

除了 SMD 組件的專用夾具外，我們還提供了根據離散設備形狀定制的夾具。

應用程序

l 電容器

l 靜電容量 (C)

l 損失因子 (D)

l 阻抗的溫度特性 (Z)

l 頻率特征

l 電子材料

l 印刷電路板

l 通量

l 絕緣材料（樹脂、薄膜等）

l 介電材料（鈦、陶瓷、鉭、鋁電解材料等）

①系統控制器

用于登記系統管理的計算機和監視器測試條件，檢查工作 狀態，并進行數據處理。

②不間斷電源

系統控制器的備用電源。

③ RS-232C

操作員控制并監測來自系統控制器的環境測試系統。

④ 掃描裝置

該裝置測量靜電容量 (C)、損耗因子(D) 和帶有測量電纜端的標準8通道的阻抗 (Z)。

您可以將每臺器械的通道數增加到64個，增量為8個通道。

⑤ 測量電纜

由聚四氟乙烯制成的同軸電纜連接到樣品或試驗系統內部夾具。

⑥ 繼電器單元

該裝置將測量電纜連接到樣本上或測試系統內部夾具至掃描儀裝置。繼電器單元使連接變得容易。

⑦ 樣品連接夾具（可選）

用于連接 SMD 組件或離散設備的卡扣式夾具。

⑧ LCR儀表

該儀表測量靜電容量 (C)、損耗因子 (D)、和阻抗(Z)。

⑨ 絕緣電阻測試儀（選配）

該測試人員測量絕緣電阻。您可以將每臺器械的通道數增加到64個，增量為8個通道。

⑩RS-485（可選）

從環境測試系統選項菜單，RS-485可將通信選作系統控制器和環境測試系統的通信協議。

電介質特性評估系統