可以評(píng)估因老化腐蝕現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化問(wèn)題的設(shè)備？

可以評(píng)估因老化腐蝕現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化問(wèn)題的設(shè)備？

產(chǎn)品介紹：

面對(duì)材料越來(lái)越小型輕量及高密度封裝，因結(jié)露、吸濕、電場(chǎng)環(huán)境等因素造成的絕緣不良現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象日益突出，長(zhǎng)期電化學(xué)腐蝕平臺(tái)，可高精度連續(xù)試驗(yàn)，高效簡(jiǎn)便評(píng)估因老化腐蝕現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問(wèn)題。

試驗(yàn)系統(tǒng)能夠模擬各類(lèi)工業(yè)制品、零部件以及原材料的實(shí)際生產(chǎn)、使用、儲(chǔ)存和運(yùn)輸過(guò)程中的高壓伴隨著低溫、高溫、潮濕、干燥、高低溫濕熱交變、快速溫度變化、溫度循環(huán)等環(huán)境因素的影響，以測(cè)試其功能、性能及壽命的完整性和可靠性。

設(shè)備參數(shù)：